JEOL JEM-ARM200F
Cs-corrector搭載型TEM/STEM
EDS搭載
STEM分解能～78pm
構造解析・組織観察
透過電子顕微鏡(TEM)
JEOL JEM-2100F (専攻共用設備)
FE電子銃搭載型TEM/STEM
EDS搭載
JEOL JEM-2000FX
LaB6電子銃搭載型TEM
JEOL JEM-2010 (専攻共用設備)
LaB6電子銃搭載型TEM
JEOL JSM-7001FA
FE電子銃搭載型SEM
EBSD, EDS搭載
JEOL JSM-7100F
FE電子銃搭載型SEM
Nanomechanics InSEM nanoindenter搭載
Nikon Eclipse LV150N
工学顕微鏡
CMOS Camera(Imaging Source DMK33UX174)搭載
画像処理・画像解析ソフトWinROOF LITE
Nikon SMZ-800
実体顕微鏡
Shimadzu Laue camera system XD-3A
X線回折装置
TRY-SE製IP読取機能内蔵型ラウエカメラIPX-LC搭載
Rigaku MiniflexII
X線回折装置
結晶育成
光学式浮遊帯域溶融装置(FZ)Asgal FZ-SS35-WV
ハロゲンランプ熱源搭載
Asgal FZ-20065XV
Xeアークランプ熱源搭載